Temos a satisfação em comunicar que se encontra disponível o número 2 da Revista Brasileira de espeleologia (*RBEsp), editada pelo *Centro Nacional de Pesquisa e Conservação de Cavernas- CECAV, do Instituto Chico Mendes, em formato digital.
A *RBEsp* utiliza a tecnologia SEER — Sistema Eletrônico de Editoração de Revistas — e tem por finalidade promover a difusão de pesquisas e estudos em Espeleologia e áreas afins, voltados à conservação e uso sustentável do Patrimônio Espeleológico brasileiro.

Com essa publicação, o CECAV cumpre a meta inicial 1, do Componente 5 do Programa Nacional de Conservação do Patrimônio Espeleológico (Portaria nº 358/09-MMA), que trata da *divulgação sobre o Patrimônio Espeleológico e objetiva comunicar para os setores interessados informações sobre o Patrimônio Espeleológico, com a participação da sociedade, comunidade científica, povos indígenas, quilombolas e outras comunidades locais, no respeito à conservação do Patrimônio Espeleológico.
A publicação é aberta para contribuição de todos que se sintam interessados ou que estejam desenvolvendo projetos acadêmicos, científicos ou gerenciais relacionados com o Patrimônio Espeleológico, obedecidos, evidentemente, os critérios metodológicos técnicos ou científicos aceitos como legitimadores dos resultados ou dos produtos.
A Revista Brasileira de Espeleologia – *RBEsp* está disponível no link: <http://www.icmbio.gov.br/revistaeletronica/index.php/RBE/index>
- Determinants on the structure of an aquatic invertebrate community in a neotropical limestone cave <http://www.icmbio.gov.br/revistaeletronica/index.php/RBE/article/view/118>
- Breve descrição do patrimônio espeleológico do município de São Desidério – BA<http://www.icmbio.gov.br/revistaeletronica/index.php/RBE/article/view/120>
- Transitory aquatic taxocenosis in two neotropical limestone caves<http://www.icmbio.gov.br/revistaeletronica/index.php/RBE/article/view/132>
- Mapa de potencialidade de ocorrência de cavernas no Brasil, na escala 1:2.500.000<http://www.icmbio.gov.br/revistaeletronica/index.php/RBE/article/view/255>


